4试品
4.1试品结构
4.1.1概况
试品结构应能充分代表待评成品绕组原件的结构特征，并应尽可能地经受正常或预期的制造过程。如果认为运行期间绝缘的机械配件(如槽中线圈边或线棒的固定方式或端部支撑结构)影响老化，应在试品中加以模拟。
当线圈或线棒单独作为模型时，爬电距离和电压梯度(若有要求)应适合于试验期间所施的应力。电极应延伸至模型的整个槽部长度，环绕线圈截面一周。试验线棒或线圈应减少长度。
4.1.2试品匝数和股数的考虑
当对线匝绝缘进行诊断试验时，为了包含成型和导体变硬可能的影响，通常需要使用完整的线圈。
当使用匝间脉冲电压诊断试验时，为了使匝间绝缘承受最高应力，线圈的匝数应为适合于绝缘结构的最小值。
若需要在匝间施加工频电压，则最好以两根并行导体(双线)绕制线圈或线圈端部应切开。当使用真空压力浸渍(VPI)线圈时，应在浸渍前将线圈端部导体切开。
4.2试样数量
为了得到可靠的统计，在每个老化温度和电压下应有足够数量的试样进行老化试验。试样数量不应少于五个，IEC给出了详细说明。
注：若使用线棒或半线圈，至少需要五个线棒或半线圈。若使用完整线圈，至少需要五个完整线圈。
4.3初始质量保证试验
制备试样的每个绝缘材料应测试以确定其满足技术要求，选择的质量试验应确保每个材料适合于制造单个样品和试品装配工艺。每个试样在第一个老化分周期开始之前应承受质量试验，但质量试验的选择应由制造商来确定。
4.4初始诊断试验
在第一个老化分周期开始之前，每个加工好的试品均应经受试验规程选定的所有诊断试验。